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用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統(tǒng)是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。 霍爾效應測試系統(tǒng) 高阻型測試儀器

FCP磁場控制器 實驗儀器 控制特征： TESTIK475型高斯計努力保持確切的磁場密度，用戶輸入的控制設定點，用G、T、Oe、A/m來表示。為了這北京錦正茂的電磁鐵磁場控制平臺集成了硬件和控制部件來形成一個變化的磁場平臺，可以被獨立的被利用或做為用戶設計的測量系統(tǒng)的一個基礎。

FCP磁場控制系統(tǒng) 產(chǎn)品概述： FCP磁場控制平臺是根據(jù)磁控原理設計的理想磁測量系統(tǒng)，磁場范圍超過3T，利用TESTIK475高斯計穩(wěn)定磁場控制，適合各系列電磁鐵配置，連續(xù)可變的電磁氣隙，實心的和光學入口極帽，線型雙極，真實四象限電磁鐵電源。

產(chǎn)品概述： FCP磁場控制平臺是根據(jù)磁控原理設計的理想磁測量系統(tǒng)，磁場范圍超過3T，利用TESTIK475高斯計穩(wěn)定磁場控制，適合各系列電磁鐵配置，連續(xù)可變的電磁氣隙，實心的和光學入口極帽，線型雙極，真實四象限電磁鐵電源。 FCP磁場控制平臺實驗儀器