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JH60D永磁體霍爾效應(yīng)測試儀材料電學(xué)測量 霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性*的工具。

實(shí)驗(yàn)室測量儀器 D30室溫探針臺 錦正茂D30室溫探針臺的諸多設(shè)計都是*用的，探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計。

JH60A霍爾效應(yīng)測試儀-半導(dǎo)體材料測量 該儀器為性能穩(wěn)定、功能強(qiáng)大、性價比高的霍爾效應(yīng)儀,在國內(nèi)高校、研究所及半導(dǎo)體業(yè)界擁有廣泛的用戶和度。

氣氛型高溫探針臺 半導(dǎo)體行業(yè)晶圓測試 快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試，測試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。